1.     平板电容器

极片尺寸：φ25.4mm

极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm

2.     园筒电容器

电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF

长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3.  夹具插头间距：25mm±1mm

4.  夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）

介电常数介质损耗测试仪工作原理

本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF的线性可变电容器，配用Q表作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数。

介电常数介质损耗测试仪使用方法

1.     被测样品的准备

被测样品要求为园形，直径25.4～27mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1～5mm之间，如太薄或太厚则测试精度就会下降，样品要尽可能平直。

下面推荐一种能提高测试精确性的方法：准备二片厚0.05mm的园形锡膜，直径和平板电容器极片一致，锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林，它起粘着作用，又能排除接触面之间残余空气，把

锡膜再粘在平板电容器两个极片上，粘好后，极片呈镜面状为佳，然后放上被测样品。

2. 测试顺序

先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

a.      把配用的Q表主调谐电容置于最小电容量，微调电容置于－3pF。

b.     把本测试装置插到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。

c.      配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈

d.     调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为DO。

e.      再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D1，这时样品厚度D2= D1－D0。

f.       把园筒电容器置于5mm处。

g.     改变配合Q表频率，使之谐振，读得Q值。

h.     先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M1。

i.       再调节园筒电容器，使Q表再次谐振。

j.       取出平板电容器中的样品，这时Q表又失谐，调节平

板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D3，其变化值为

D4= D3－D0。

k.     和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M2。

3.  计算测试结果

被测样品的介电常数：

Σ＝D2 / D4

被测样品的损耗角正切值：

     tgδ＝K（M1－M2 ）/ 15.5

式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33 / mm，每个测试夹具在盒盖内标有具体数值。

一般按以上公式计算的结果，其精度和重复性是能满足的，但对介电常数大的被测样品（即样品从平板样品放入和取出，平板电容器刻度值变化较大），边缘效应电容对测试会有较显著的影响，这时可按下列公式计算：

Σ＝（C2 + CF2－CF）/ C1

tgδ＝K（M1－M2 ）/ 3.46（C2 + CF2－CF）/ C1

式中：C1＝D1刻度时平板电容器空气介质电容量〔见附图（1）〕；

C2＝D3刻度时平板电容器空气介质电容量〔见附图（1）〕；

CF1＝D1刻度时的边缘效应电容量〔见附图（2）〕；

CF2＝D3刻度时的边缘效应电容量〔见附图（2）〕